導(dǎo)波雷達(dá)發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測(cè)組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測(cè)介質(zhì),由于介電常數(shù)突變,引起發(fā)射,一部分脈沖能量被反射回來。反射的脈沖信號(hào)沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)至儀表電子線路部分,微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理,識(shí)別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由脈沖軟件完成,距離物料表面的距離D與脈沖的時(shí)間行程T成正比:D=C×T/2
其中C為光速,因空罐的距離E已知,則物位L為:L=E-D
通過輸入空罐高度E(=零點(diǎn)),滿罐高度F(=滿量程)及一些應(yīng)用參數(shù)來設(shè)定,應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測(cè)量環(huán)境,對(duì)應(yīng)于4~20mA輸出。
測(cè)量范圍說明:
H----測(cè)量范圍
L----空罐距離
B----頂部盲區(qū)
E----探頭到罐壁的最小距離
頂部盲區(qū)是指物料最高料面與測(cè)量參考點(diǎn)之間的最小距離。
底部盲區(qū)是指纜繩最底部附近無法精確測(cè)量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測(cè)量距離。
注意:
只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí),才能保證罐內(nèi)物位的可靠測(cè)量。
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